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本发明公开了一种用于集成电路的电磁故障注入探测方法及相应的集成电路，方法包括：将至少一个用于感知电压下降干扰的第一正反器和至少一个用于感知电压上升干扰的第二正反器置于所述集成电路内；基于所述第一正反器的输出和所述第二正反器的输出，判断出电磁...
该专利属于御芯微电子(厦门)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过御芯微电子(厦门)有限公司授权不得商用。

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