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膏体外观缺陷检测设备及方法技术
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文档序号:24406232
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本公开实施例中提供了一种膏体外观缺陷检测设备及方法,属于产品检测技术领域,该设备包括:传送装置,所述传送装置用户用于在指定方向上运送膏体;第一触发传感器,所述第一触发传感器设置在所述传送装置的第一位置,用于在第一位置检测所述膏体是否到达;第...
该专利属于中科创达软件股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中科创达软件股份有限公司授权不得商用。
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