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本发明公开了一种基于高光谱技术的复合绝缘子老化程度检测方法可以实现对复合绝缘子的非接触、快速无损伤检测；能够从各特征参量上实现高光谱谱线到老化程度的信息映射；能够通过建立的模型对绝缘子老化程度进行分析，对更换老化程度高的绝缘子提供指导和参考...
该专利属于西南交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西南交通大学授权不得商用。

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