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本发明提供一种基于太赫兹光谱技术的热障涂层微孔隙结构特征表征方法，包括：获取具有不同微孔隙结构特征的热障涂层试样的样本集；利用反射式太赫兹时域光谱系统对热障涂层试样的样本集进行太赫兹特征提取；对热障涂层试样分别进行微孔隙结构特征提取；建立支...
该专利属于华东理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东理工大学授权不得商用。

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