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本实用新型提供一种集成电路芯片测试系统，涉及集成电路芯片测试技术领域。该系统包括：第一测试设备、第二测试设备、采集设备、存储设备和计算设备，第一测试设备、采集设备、存储设备和第二测试设备之间依次电连接，且计算设备分别与第一测试设备、第二测试...
该专利属于合肥悦芯半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥悦芯半导体科技有限公司授权不得商用。

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