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本实用新型提供一种射频芯片测试系统，包括控制设备、射频功率测试仪和自动分选机，所述控制设备分别电连接射频功率测试仪和自动分选机，所述自动分选机包括芯片放置台和多个芯片取放头，所述芯片放置台上设有多个芯片放置位，各个芯片取放头一一对应各个芯片...
该专利属于广东利扬芯片测试股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东利扬芯片测试股份有限公司授权不得商用。

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