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本发明属于显示面板自动光学检测技术领域，公开了一种AOI缺陷检测方法，建立缺陷检测模型，缺陷检测模型包括生成器网络和判别器网络，缺陷检测模型用于获得缺陷相关信息；利用正样本建立训练集，利用训练集训练生成器网络和判别器网络；利用训练获得的生成...该专利属于武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司授权不得商用。