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本发明提供一种电路板的测试方法，其包括：通过图像采集设备采集取样电路板的顶面采样图像。从顶面采样图像中获取多个集成电路部分的多个集成电路区域图像。获取顶面框架图像。获取一个顶面框架模型及多个集成电路图像模型。建立集成电路模型库。采集当前顶面...
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