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本申请提供一种谱线探测方法、装置、谱线探测仪和谱线探测系统，所述方法包括：接收待分析的衍射信号对应的脉冲信号，所述衍射信号包括多种谱线，且所述衍射信号为利用射线源对样品进行多个不同角度的照射产生的；根据与目标谱线对应的信号幅度范围，从所述脉...
该专利属于中国工程物理研究院材料研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院材料研究所授权不得商用。

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