温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开揭示了一种基于单个衍射峰的计算形变晶体材料位错密度的方法，包括：利用同步辐射能量扫描X射线衍射技术，获得形变晶体材料的衍射强度相对于衍射矢量模的实验强度分布曲线和无形变晶体材料的衍射强度相对于衍射矢量模的参考强度分布曲线；引入无量纲变...
该专利属于西安交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安交通大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。