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一种基于油膜荧光亮度的流场辐聚辐散测量方法技术
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文档序号:24349650
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本发明公开了一种基于油膜荧光亮度的流场辐聚辐散测量方法,通过分别获得具有荧光颜料的硅油在水体上方的至少两个不同已知油膜厚度下经紫外光照射产生荧光的图像,并对图像进行分析得到与荧光强度对应的灰度值;根据已知油膜厚度与灰度值计算得到油膜厚度‑灰...
该专利属于哈尔滨工业大学(威海)所有,仅供学习研究参考,未经过哈尔滨工业大学(威海)授权不得商用。
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