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本发明涉及相位恢复技术，提供了一种基于多步相位调制的光场复振幅测量装置及方法，解决现有相位恢复技术需要复杂扫描过程以获得多个衍射强度，在扫描过程中引入的位移误差和光路倾斜，影响相位恢复收敛速度和精度的问题。其中装置包括调制系统、探测器及数据...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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