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纳米孔测序单元中的双电层电容的测量制造技术
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下载纳米孔测序单元中的双电层电容的测量的技术资料
文档序号:24334814
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技术涉及测量测序单元的双电层电容。在某些实施方案中,在测序单元中的井上方形成膜之前测量双电层电容。将双电层电容器预充电到初始电压水平。使用具有已知电容值的电容器将双电层电容器反复充电或放电。使用双电层电容器的充电或放电率测定双电层电容。在一...
该专利属于豪夫迈·罗氏有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过豪夫迈·罗氏有限公司授权不得商用。
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