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本发明提供一种基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法：包括以下步骤：(1)图像采集，得到图像Image；执行步骤2；(2)通过阈值分割从图像Image得到磁瓦图像Region；执行步骤3；(3)磁瓦图像Region屏蔽边缘区域，得到屏蔽...
该专利属于浙江理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江理工大学授权不得商用。

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