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本发明公开了一种用于对定点样品进行检测的方法及系统，其中方法包括：获取检测任务，根据所述检测任务中的指定地点，获取样品的取样地点的定位信息；根据所述定位信息提取所述指定地点的样品；获取待检测的样品，以及所述指定地点对所述样品进行取样时的现场...
该专利属于航天信息股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过航天信息股份有限公司授权不得商用。

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