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本发明提供的是一种微结构光纤高分辨率三维折射率测试方法。其特征是：它包括基于F‑P腔的数字全息图记录、数值重建、解包裹、误差处理、三维相位分布重建和三维折射率转换。本发明主要提供一种微结构光纤高分辨率三维折射率测试方法，相比传统的显微成像方...
该专利属于桂林电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过桂林电子科技大学授权不得商用。

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