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本发明公开一种芯片内部硅片管脚信号仿真方法及装置，获取所述芯片内部电路的TDR阻抗曲线的数据；根据所述TDR阻抗曲线的数据获得所述芯片内部电路的等效电路模型；获取需要施加到所述芯片外部管脚上的测试信号的数据；根据所述等效电路模型和所述测试信...
该专利属于浙江宇视科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江宇视科技有限公司授权不得商用。

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