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本发明提供一种基于Labview的产品缺陷检测方法。本发明的方法利用Labview创建一套机器视觉检测系统，该系统将Labview与PLC进行通信，当检测到产品到达相应的位置后，会发出相应的信号给计算机，将信号传给Labview系统后，系统...
该专利属于杭州电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过杭州电子科技大学授权不得商用。

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