下载集成电路测试装置的技术资料

文档序号:24203243

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本发明涉及一种集成电路测试装置,包括测试机台、可编程电路和信号转换电路,可编程电路分别电连接测试机台的矢量存储模块和信号转换电路。信号转换电路用于电连接测试芯片。矢量存储模块用于存储压缩后的测试矢量,以及根据可编程电路回传的压缩响应确定测试...
该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))所有,仅供学习研究参考,未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))授权不得商用。

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