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本发明公开了一种电子产品老化检测用自动测试机，包括机架，所述机架连通有低温管道，所述低温管道的下端贯穿密封罩，所述密封罩内设置有测试机构，所述测试机构的一侧设置有不合格产品回收机构，所述测试机构的后侧设置有CCD耦合机构，所述密封罩的左侧设...
该专利属于贝明所有，仅供学习研究参考，未经过贝明授权不得商用。

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