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本发明公开了一种TDI线列红外探测器成像性能测试方法，具体包括以下步骤：S1、先将需要测试的红外探测器的基本参数进行登记，并将登记信息传送至存储器中进行保存，然后将红外探测器放置测试机台上准备进行成像性能测试；S2、启动测试机台上的性能测试...
该专利属于北京东宇宏达科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京东宇宏达科技有限公司授权不得商用。

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