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本发明涉及一种测量系统，其包括测量设备和运算装置。测量设备包括：包括第一壳体、第一长度测量体、第一长度测量装置和第一参考点的第一部分，第一长度测量体具有附接到第一壳体的第一端和可远离第一壳体延伸的第二端，并构造成测量第一长度测量体的第二端和...
该专利属于赫克斯冈技术中心所有，仅供学习研究参考，未经过赫克斯冈技术中心授权不得商用。

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