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本发明题为“用于可变形图像配准的无监督深度学习的系统和方法”。提供了一种方法。该方法包括在扫描持续时间内同时采集受检者的解剖区域的多个磁共振(MR)图像和多个超声图像。该方法还包括训练基于无监督深度学习的可变形配准网络。该训练包括基于多个M...
该专利属于通用电气公司所有，仅供学习研究参考，未经过通用电气公司授权不得商用。

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