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本发明公开了一种基于图像处理的元器件表面定位方法，包括以下步骤：S1,获取元器件的图像，对获取的图像进行图像增强处理以用于改善图像的视觉效果；S2，对图像增强处理后的图像进行二值化处理，对二值化处理后的图像去噪；S3，求取元器件在自定义角度...
该专利属于贵州航天计量测试技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过贵州航天计量测试技术研究所授权不得商用。

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