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本发明涉及一种对Hadamard测量基进行排序的方法：S1，根据待测图像的分辨率初始化参数M，M＝2...
该专利属于北京航天控制仪器研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京航天控制仪器研究所授权不得商用。

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