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本发明公开一种基于多曝光成像的成衣印花缺陷检测系统，该成衣印花缺陷检测系统基于多曝光成像技术，通过对待检测的印花样本进行多曝光拍摄，形成多张不同曝光拍摄模式下对应的曝光图，然后将各张曝光图与在同一曝光拍摄模式下拍摄的基准曝光图进行逐一的缺陷...
该专利属于创新奇智(合肥)科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过创新奇智(合肥)科技有限公司授权不得商用。

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