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本发明属于二维综合孔径辐射计成像技术领域，公开了一种基于延时相关的二维综合孔径辐射计成像方法及系统，利用辐射信号不相关的特点，将各个天线接收的模拟信号延时、相加后输入一个通道，经AD采样、自相关、傅里叶反演处理最终获得亮温图像。本发明将延时...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

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