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本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检测方法，包括如下步骤：将磁瓦图像输入到缺陷检测网络模型中，输出缺陷概率图；判断缺陷概率图上各像素点是否为缺陷点；提取各缺陷点围合的疑似缺陷区域记为rect1；提取磁瓦图像对应的label图像上的真实缺陷区域记为...
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