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本申请公开了一种存储设备故障检测方法，包括：对原始存储设备特征数据进行滑动窗口步长采样处理，得到三维训练矩阵和一维标签矩阵；采用Keras神经网络库根据所述三维训练矩阵和所述一维标签矩阵进行长短时记忆网络训练，得到LSTM检测模型；采用所述...
该专利属于浪潮(北京)电子信息产业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浪潮(北京)电子信息产业有限公司授权不得商用。

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