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本发明提供了一种多光斑同步测量分析方法及装置，该方法包括以下步骤：S1、获取包含多个光斑的原始图像P0并在窗口显示；S2、将用户在图像P0中选取的仅包含一个光斑的ROI区域的图像P1作为匹配模板，通过IMAQ Resample函数，将图像P...
该专利属于武汉华工激光工程有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华工激光工程有限责任公司授权不得商用。

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