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本发明提供一种片上系统，用于测试USB物理层，包括：微控制单元，与上位机连接；现场可编程门阵列，包括：数据发生器，与微控制单元连接；数据校验器，与微控制单元连接；以及USB物理层收发器，与微控制单元、数据发生器和数据校验器连接；其中，微控制...
该专利属于广东高云半导体科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东高云半导体科技股份有限公司授权不得商用。

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