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本发明提供一种半导体开关器件的恒温运行测试系统及方法，包括：闭环反馈模块，包括半导体开关器件，基于半导体开关器件实现闭环调节；热电偶，贴设于半导体开关器件的背面，检测半导体开关器件的运行温度；调节模块，连接热电偶，接收热电偶的检测信号及参考...
该专利属于青岛聚能创芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过青岛聚能创芯微电子有限公司授权不得商用。

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