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本发明公开了存储器、导电回路电接触状态评测方法、装置和设备，其中所述方法包括：在环境温度下测量待测GIS回路的回路电阻；对待测GIS回路进行包括有多个阶段的升温试验，并在每完成一个阶段升温试验后测量待测GIS回路的回路电阻，以获得不同温度下...该专利属于国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司;清华大学授权不得商用。