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本申请提供一种光量子交换机插损测量系统，其中测量系统包括光源、分束器、第一光功率计、上位机以及第二光功率计；所述光源与所述分束器光学连接；所述分束器分别光学连接于所述第一光功率计的进口端以及待测光量子交换机的进口端；所述第二光功率计光学连接...
该专利属于北京中创为南京量子通信技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中创为南京量子通信技术有限公司授权不得商用。

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