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本发明公开了一种Ti‑Al系合金粉末的电子探针样品制备方法及显微偏析的检测方法，属于粉末冶金钛合金加工技术领域。该方法包括：(1)按比例配比Ti‑Al系合金粉末和导电镶嵌料粉末；(2)将混合均匀的粉末进行热镶嵌；(3)将镶嵌后的试样进行粗磨...
该专利属于中国科学院金属研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院金属研究所授权不得商用。

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