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本发明公开了一种相位调制器的半波电压测量方法和测试系统，测量方法的步骤依次为产生两束功率相同的激光；将两束激光耦合为一束光信号，并将该光信号输入待测的相位调制器；待测的相位调制器对光信号进行调制，将调制后的光信号进行密集波分复用技术处理，输...
该专利属于东南大学所有，仅供学习研究参考，未经过东南大学授权不得商用。

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