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本发明公开了一种芯片预抄写的检测方法，所述芯片预抄写的检测方法包括：获取所述芯片的容量大小和预抄写软件的各分区大小；根据所述预抄写软件的各分区大小计算整个预抄写软件的大小；判断所述芯片的容量大小是否与所述整个预抄写软件的大小一致；根据判断结...
该专利属于深圳TCL数字技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳TCL数字技术有限公司授权不得商用。

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