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本发明公开一种QFN芯片引脚图像快速倾斜校正方法，包括以下步骤：(1)采集QFN芯片引脚图像，进行滤波、二值化处理；(2)利用多边形逼近方法提取芯片图像中心焊盘轮廓；(3)提出改进Harris角点检测算法，获取轮廓顶点；(4)利用最小二乘法...
该专利属于江苏理工学院所有，仅供学习研究参考，未经过江苏理工学院授权不得商用。

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