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本发明公开了一种基于深度学习与NCA融合的电子元器件识别方法，该方法包括三个部分:(1)图像的预处理，样本均衡；(2)用卷积神经网络对含有分类标签的图像进行训练；(3)用卷积神经网络提取特征并使用NCA降维，再对降维后的特征进行预测,该方法...
该专利属于厦门思泰克智能科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门思泰克智能科技股份有限公司授权不得商用。

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