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一种可调控应变梯度的薄膜材料挠曲电系数测量装置和方法制造方法及图纸
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下载一种可调控应变梯度的薄膜材料挠曲电系数测量装置和方法的技术资料
文档序号:23760492
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本发明公开了一种可调控应变梯度的薄膜材料挠曲电系数测量装置和方法,该装置由两层长度、宽度和厚度相同的基体梁以及设置在两层梁之间的长度和宽度与梁相同的测试薄膜形成的三明治结构,由两个上压头和两个受力支撑件组成的四点1/4弯曲夹具,装载四点1/...
该专利属于西安交通大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安交通大学授权不得商用。
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