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一种便于打开箱盖的测试箱制造技术
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下载一种便于打开箱盖的测试箱的技术资料
文档序号:23760308
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本发明公开了LED灯高温老化测试技术领域的一种便于打开箱盖的测试箱,包括箱体,所述箱体内腔靠下的位置固定设置有隔热板,所述导杆顶部固定连接有阻燃板,所述阻燃板顶部均匀设置有结构相同的测试盒组件,所述密封箱盖顶部固定插接有与测试盒组件配合的加...
该专利属于蚌埠兴创电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过蚌埠兴创电子科技有限公司授权不得商用。
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