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本申请涉及一种基于化学发光法的臭氧分析方法及臭氧分析仪。该臭氧分析方法包括:测量样气的第一荧光信号;使样气中的臭氧与过量一氧化氮进行反应以生成激发态的二氧化氮;测量二氧化氮返回基态过程中的第二荧光信号;根据第一荧光信号和第二荧光信号分析样气...该专利属于北京雪迪龙科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京雪迪龙科技股份有限公司授权不得商用。
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