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一种微细间距铜柱晶圆级封装结构及可靠性优化方法技术
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文档序号:23707931
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本发明型提供一种微细间距铜柱晶圆级封装结构,包括:印刷电路板;焊盘,设于所述印刷电路板上;焊点,设于所述焊盘上;铜柱,设于所述焊点上;重分布层,设于所述铜柱上;钝化层,设于所述重分布层上;低介电常数层,设于所述钝化层上;芯片,设于所述低介电...
该专利属于南通大学所有,仅供学习研究参考,未经过南通大学授权不得商用。
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