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本发明公开了一种二阶非线性光学测试装置及其测试方法，所述装置通过激光单元以预设角度小于90°向待测样品发射入射光，待测样品经入射光照射后产生反射光，该反射光为入射光的倍频光，然后利用检测单元接收反射光，并对反射光的信号强度进行检测，得到待测...
该专利属于中国科学院福建物质结构研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院福建物质结构研究所授权不得商用。

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