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本发明提出了一种宽带高分辨率光谱响应测量系统及方法，属于光谱响应测量和微波光子学领域，用于解决现有方法测量范围窄、测量分辨率低和仅能测量带阻光器件的问题。具体技术方案为：细步进可调光源发出的光载波进入双平行马赫‑曾德尔调制器，细步进射频源结...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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