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本发明公开了一种基于并行探测的二维亚十纳米定位方法，使用一束空心斑激发，另一束空心斑荧光淬灭，获得超越衍射极限的暗斑模型，再基于探测器阵列对空间不同位置点进行荧光光子数采样计数，根据统计分布规律以及极大似然概率估计的数学模型精确测量高浓度染...
该专利属于浙江大学所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大学授权不得商用。

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