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本发明涉及一种多通道响应时间自动测试装置及方法，属于集散控制系统性能测试技术领域，解决了现有技术中测量误差大、装置体积大且无法同步测量多路被测通道的问题。该装置包括上位机和至少一个下位机；上位机，用于设置阶跃信号参数并输出至下位机，控制下位...
该专利属于北京广利核系统工程有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京广利核系统工程有限公司授权不得商用。

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