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本发明公开了一种用于测试宽禁带半导体开关器件动态电阻的电压钳位电路，包括：高压阻断子电路、稳压子电路、防振荡子电路、滤波子电路和FPGA主控电路，具有低测量延时的特点。本发明还公开了一种用于测试氮化镓HEMT动态电阻的测试条件可控装置，包括...
该专利属于中山大学所有，仅供学习研究参考，未经过中山大学授权不得商用。

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