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本发明涉及中子散射谱仪技术领域，尤其涉及一种具有多级准直调节机构的中子导管系统及其准直方法；所述的中子导管系统包括中子导管、两组框型调节机构和两组底部调节机构，中子导管包括金属壳体、安装在金属壳体内部的超镜玻璃，以及设置在金属壳体上的金属壳...该专利属于散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所授权不得商用。