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本发明公开了一种对电子设备性能进行分析的立体图谱设备，包括：工作台，其在X轴、Y轴、Z轴的至少三个方向上，分别设置有对应的至少一个红外热成像摄像仪；与各所述红外热成像摄像仪通信连接的计算机终端；其中，各所述红外热成像摄像仪分别通过可沿预定方...
该专利属于中国工程物理研究院计算机应用研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国工程物理研究院计算机应用研究所授权不得商用。

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